Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions
Nelson, A. J.; Toleikis, S.; Chapman, H.; Bajt, S.; Krzywinski, J.; Chalupsky, J.; Juha, L.; Cihelka, J.; Hajkova, V.; Vysin, L.; Burian, T.; Kozlova, M.; Fäustlin, R. R.; Nagler, B.; Vinko, S. M.; Whitcher, T.; Dzelzainis, T.; Renner, O.; Saksl, K.; Khorsand, A. R.; Heimann, P. A.; Sobierajski, R.; Klinger, D.; Jurek, M.; Pelka, J.; Iwan, B.; Andreasson, J.; Timneanu, N.; Fajardo, M.; Wark, J. S.; Riley, D.; Tschentscher, T.; Hajdu, J.; Lee, R. W.
2009
Files
Details
Title
Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions
Author
Nelson, A. J.
Toleikis, S. (desy)
Chapman, H. (desy)
Bajt, S. (desy)
Krzywinski, J.
Chalupsky, J. (desy)
Juha, L. (desy)
Cihelka, J.
Hajkova, V.
Vysin, L.
Burian, T.
Kozlova, M.
Fäustlin, R. R.
Nagler, B.
Vinko, S. M.
Whitcher, T.
Dzelzainis, T.
Renner, O.
Saksl, K.
Khorsand, A. R.
Heimann, P. A.
Sobierajski, R.
Klinger, D.
Jurek, M.
Pelka, J.
Iwan, B.
Andreasson, J.
Timneanu, N.
Fajardo, M.
Wark, J. S.
Riley, D.
Tschentscher, T.
Hajdu, J.
Lee, R. W.
Toleikis, S. (desy)
Chapman, H. (desy)
Bajt, S. (desy)
Krzywinski, J.
Chalupsky, J. (desy)
Juha, L. (desy)
Cihelka, J.
Hajkova, V.
Vysin, L.
Burian, T.
Kozlova, M.
Fäustlin, R. R.
Nagler, B.
Vinko, S. M.
Whitcher, T.
Dzelzainis, T.
Renner, O.
Saksl, K.
Khorsand, A. R.
Heimann, P. A.
Sobierajski, R.
Klinger, D.
Jurek, M.
Pelka, J.
Iwan, B.
Andreasson, J.
Timneanu, N.
Fajardo, M.
Wark, J. S.
Riley, D.
Tschentscher, T.
Hajdu, J.
Lee, R. W.
Affiliation
EuXFEL staff
Author Group
Management Board
Imprint
Washington, DC, The Optical Society, 2009
Date
2009
Publication Information
Opt. Express, 17, 18271 (2009)
ISSN
1094-4087
Related external records
DOI: https://doi.org/10.1364/OE.17.018271
WOS: WOS:000270295300112
WOS: WOS:000270295300112
Related proposal number
POF I
Content Type
Articles
Funding Information
FLASH Beamline BL3 (POF1-550)