Profiling structured beams using injected aerosols
Duane Loh N.; Starodub D.; Lomb L.; Hampton C.Y.; Martin A.V.; Sierra R.G.; Barty A.; Aquila A.; Schulz J.; Steinbrener J.; Shoeman R.L.; Kassemeyer S.; Bostedt C.; Bozek J.; Epp S.W.; Erk B.; Hartmann R.; Rolles D.; Rudenko A.; Rudek B.; Foucar L.; Kimmel N.; Weidenspointner G.; Hauser G.; Holl P.; Pedersoli E.; Liang M.; Hunter M.S.; Gumprecht L.; Coppola N.; Wunderer C.; Graafsma H.; Maia F.R.N.C.; Ekeberg T.; Hantke M.; Fleckenstein H.; Hirsemann H.; Nass K.; White T.A.; Tobias H.J.; Farquar G.R.; Henry Benner W.; Hau-Riege S.; Reich C.; Hartmann A.; Soltau H.; Marchesini S.; Bajt S.; Barthelmess M.; Strueder L.; Ullrich J.; Bucksbaum P.; Hodgson K.O.; Frank M.; Schlichting I.; Chapman H.N.; Bogan M.J.
2012
Details
Title
Profiling structured beams using injected aerosols
Author
Duane Loh N.
Starodub D.
Lomb L.
Hampton C.Y.
Martin A.V.
Sierra R.G.
Barty A.
Aquila A.
Schulz J.
Steinbrener J.
Shoeman R.L.
Kassemeyer S.
Bostedt C.
Bozek J.
Epp S.W.
Erk B.
Hartmann R.
Rolles D.
Rudenko A.
Rudek B.
Foucar L.
Kimmel N.
Weidenspointner G.
Hauser G.
Holl P.
Pedersoli E.
Liang M.
Hunter M.S.
Gumprecht L.
Coppola N.
Wunderer C.
Graafsma H.
Maia F.R.N.C.
Ekeberg T.
Hantke M.
Fleckenstein H.
Hirsemann H.
Nass K.
White T.A.
Tobias H.J.
Farquar G.R.
Henry Benner W.
Hau-Riege S.
Reich C.
Hartmann A.
Soltau H.
Marchesini S.
Bajt S.
Barthelmess M.
Strueder L.
Ullrich J.
Bucksbaum P.
Hodgson K.O.
Frank M.
Schlichting I.
Chapman H.N.
Bogan M.J.
Starodub D.
Lomb L.
Hampton C.Y.
Martin A.V.
Sierra R.G.
Barty A.
Aquila A.
Schulz J.
Steinbrener J.
Shoeman R.L.
Kassemeyer S.
Bostedt C.
Bozek J.
Epp S.W.
Erk B.
Hartmann R.
Rolles D.
Rudenko A.
Rudek B.
Foucar L.
Kimmel N.
Weidenspointner G.
Hauser G.
Holl P.
Pedersoli E.
Liang M.
Hunter M.S.
Gumprecht L.
Coppola N.
Wunderer C.
Graafsma H.
Maia F.R.N.C.
Ekeberg T.
Hantke M.
Fleckenstein H.
Hirsemann H.
Nass K.
White T.A.
Tobias H.J.
Farquar G.R.
Henry Benner W.
Hau-Riege S.
Reich C.
Hartmann A.
Soltau H.
Marchesini S.
Bajt S.
Barthelmess M.
Strueder L.
Ullrich J.
Bucksbaum P.
Hodgson K.O.
Frank M.
Schlichting I.
Chapman H.N.
Bogan M.J.
Affiliation
EuXFEL staff
Imprint
2012
Date
2012
Publication Information
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering (8504), 850403 (2012)
Content Type
Proceedings
Event/Conference
X-Ray Free-Electron Lasers: Beam Diagnostics, Beamline Instrumentation, and Applications, San Diego, CA, 2012-08-13, 2012-08-16
Record Appears in