Record Details

Title:
XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report
Author(s):
Abela, R.
Aghababyan, A.
Altarelli, M.
Altucci, C.
Amatuni, G.
Anfinrud, P.
Audebert, P.
Ayvazyan, V.
Baboi, N.
Baehr, J.
Balandin, V.
Bandelmann, R.
Becker, J.
Beutner, B.
Blome, C.
Bohnet, I.
Bolzmann, A.
Bostedt, C.
Bozhko, Y.
Brandt, A.
Bratos, S.
Bressler, C.
Brovko, O.
Brück, H.
Carneiro, J. -P.
Casalbuoni, S.
Castellano, M.
Castro, P.
Catani, L.
Cavalleri, A.
Celik, S.
Chapman, H.
Charalambidis, D.
Chen, J.
Chergui, M.
Choroba, S.
Cianchi, A.
Clausen, M.
Collet, E.
Danared, H.
David, C.
Decking, W.
Dehler, M.
Delsim-Hashemi, H.
Dipirro, G.
Dobson, B.
Dohlus, M.
Duesterer, S.
Eckhardt, A.
Eckoldt, H. -J.
Edwards, H.
Faatz, B.
Fajardo, M.
Fateev, A.
Feldhaus, J.
Filipov, Y.
Floettmann, K.
Follath, R.
Fominykh, B.
French, M.
Frisch, J.
Froehlich, L.
Gadwinkel, E.
García-Tabarés, L.
Gareta, J. J.
Garvey, T.
Gel'mukhanov, F.
Gensch, U.
Gerth, C.
Goerler, M.
Golubeva, N.
Graafsma, H.
Graeff, W.
Grimm, O.
Griogoryan, B.
Grübel, G.
Gutt, C.
Hacker, K.
Haenisch, L.
Hahn, U.
Hajdu, J.
Han, J. H.
Hartrott, M.
Havlicek, J.
Hensler, O.
Honkavaara, K.
Honkimäki, V.
Hott, T.
Howells, M. R.
Huening, M.
Ihee, H.
Ilday, F. Ö.
Ischebeck, R.
Jablonka, M.
Jaeschke, E.
Jensch, K.
Jensen, J. -P.
Johnson, S.
Juha, L.
Kaerntner, F.
Kammering, R.
Kapitza, H.
Katalev, V.
Keil, B.
Khodyachykh, S.
Kienberger, R.
Kim, J. -W.
Kim, Y.
Klose, K.
Kocharyan, V.
Koehler, W.
Koerfer, M.
Kollewe, M.
Kong, Q.
Kook, W.
Kostin, D.
Kozlov, O.
Kraemer, D.
Krasilnikov, M.
Krause, B.
Krebs, O.
Krzywinski, J.
Kube, G.
Kuhlmann, M.
Laich, H.
Lange, R.
Larsson, M.
Lee, R. W.
Leuschner, A.
Lierl, H.
Lilje, L.
Limberg, T.
Lindenberg, A.
Lipka, D.
Loehl, F.
Ludwig, K.
Luong, M.
Magne, C.
Maquet, A.
Marangos, J.
Masciovecchio, C.
Maslov, M.
Matheisen, A.
Matyushevskiy, E.
Matzen, O.
May, H. -J.
McNulty, I.
McCormick, D.
Meulen, P.
Meyners, N.
Michelato, P.
Mildner, N.
Miltchev, V.
Minty, M.
Moeller, W. -D.
Möller, T.
Monaco, L.
Nagl, M.
Napoly, O.
Neubauer, G.
Nicolosi, P.
Nienhaus, A.
Noelle, D.
Nunez, T.
Obier, F.
Oppelt, A.
Pagani, C.
Paparella, R.
Pedersen, H. B.
Petersen, B.
Petrosyan, B.
Petrosyan, L.
Petrov, A.
Pflueger, J.
Piot, P.
Plech, A.
Ploenjes, E.
Poletto, L.
Pöplau, G.
Prat, E.
Prat, S.
Prenting, J.
Proch, D.
Pugachov, D.
Quack, H.
Racky, B.
Ramert, D.
Redlin, H.
Rehlich, K.
Reininger, R.
Remde, H.
Reschke, D.
Richter, D.
Richter, M.
Riemann, S.
Riley, D.
Robinson, I.
Roensch, J.
Rosmej, F.
Ross, M.
Rossbach, J.
Rybnikov, V.
Sachwitz, M.
Saldin, E.
Sandner, W.
Schäfer, J.
Schilcher, T.
Schlarb, H.
Schloesser, M.
Schlott, V.
Schmidt, B.
Schmitz, M.
Schmueser, P.
Schneider, J.
Schneidmiller, E.
Schotte, F.
Schrader, S.
Schreiber, S.
Schroer, C.
Schuch, R.
Schulte-Schrepping, H.
Schwarz, A.
Seidel, M.
Sekutowicz, J.
Seller, P.
Sellmann, D.
Senf, F.
Sertore, D.
Shabunov, A.
Simrock, S.
Singer, W.
Sinn, H.
Smith, R.
Sombrowski, E.
Sorokin, A. A.
Springate, E.
Staack, M.
Staykov, L.
Steffen, B.
Stephenson, B.
Stephan, F.
Stulle, F.
Syresin, E.
Sytchev, K.
Sytchev, V.
Tallents, G.
Techert, S.
Tesch, N.
Thom, H.
Tiedtke, K.
Tischer, M.
Tolan, M.
Toleikis, S.
Toral, F.
Treusch, R.
Trines, D.
Tsakanov, V.
Tsakov, I.
Tschentscher, T.
Ullrich, F. -R.
van Rienen, U.
Variola, A.
Vartaniants, I.
Vogel, E.
Vogel, J.
Vuilleumier, R.
Wabnitz, H.
Wanzenberg, R.
Wark, J. S.
Weddig, H.
Weiland, T.
Weise, H.
Wendt, M.
Wenndorff, R.
Wichmann, R.
Will, I.
Winter, A.
Witte, K.
Wittenburg, K.
Wochner, P.
Wohlenberg, T.
Wojtkiewicz, J.
Wolf, A.
Wulff, M.
Yurkov, M.
Zagorodnov, I.
Zambolin, P.
Zapfe, K.
Zeitoun, P.
Ziemann, V.
Zolotov, A.
Brinkmann, R.
Grabosch, H. -J.
Topic:
Imprint:
Hamburg, DESY, 2006
Journal Information:
10.3204/DESY_06-097 (2006)
ISBN:
978-3-935702-17-1
External related publications:
Report number:
DESY-06-097


Export


 Record created 2016-10-11, last modified 2017-03-16

Fulltext:
Download fulltextPDF
External link:
Download fulltextFulltext
Rate this document:

Rate this document:
1
2
3
 
(Not yet reviewed)